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Gli smartphone e i computer potrebbero ottenere un grande aumento delle prestazioni, grazie a una scoperta accidentale

Un'immagine illustrativa che mostra un chip con un'alta velocità di clock (fonte: immagine generata dall'AI)
Un'immagine illustrativa che mostra un chip con un'alta velocità di clock (fonte: immagine generata dall'AI)
Durante la ricerca di un nuovo modo per monitorare la corrosione e le crepe nei reattori nucleari, un team di ricerca del MIT ha scoperto qualcosa di inaspettato. Hanno scoperto che la loro tecnica può essere utilizzata anche per controllare con precisione le proprietà di un materiale. Questa scoperta potrebbe avere un grande impatto nella microelettronica di prossima generazione.

Un team di ricercatori del MIT, alla ricerca di un modo per migliorare la sicurezza e la durata dei reattori nucleari, ha scoperto per caso una nuova tecnica che potrebbe aumentare le prestazioni dei chip per computer. Il lavoro del team è stato concepito solo per studiare come i materiali si corrodono e si incrinano nell'ambiente difficile che si trova all'interno di un reattore nucleare.

La ricerca - pubblicata sulla rivista Scripta Materialia - ha comportato l'uso di un potente fascio di raggi X focalizzato per imitare le intense radiazioni presenti all'interno di un reattore nucleare. Durante gli esperimenti con il nichel - un componente comune della lega nei reattori nucleari avanzati - i ricercatori hanno fatto una scoperta inaspettata. Hanno scoperto di poter utilizzare il fascio di raggi X anche per "sintonizzare" con precisione la deformazione della struttura cristallina del materiale.

Questo potrebbe avere un impatto importante nello sviluppo della microelettronica. Gli ingegneri che lavorano nel settore della produzione di semiconduttori utilizzano l'ingegneria delle deformazioni - una tecnica utilizzata per introdurre e modificare le deformazioni nei materiali per migliorare le prestazioni ottiche ed elettriche. Questa nuova scoperta fornisce una nuova tecnica di ingegneria delle deformazioni.

Con la nostra tecnica, gli ingegneri possono utilizzare i raggi X per regolare la deformazione nella microelettronica mentre la producono. Anche se questo non era il nostro obiettivo con questi esperimenti, è come ottenere due risultati al prezzo di uno. - Ericmoore Jossou, autore senior di uno studio.

La ricerca ha avuto successo anche per quanto riguarda il suo obiettivo originale. Il team ha sviluppato con successo un metodo per il monitoraggio 3D in tempo reale dei cedimenti dei materiali in un ambiente di reattore nucleare simulato. Il team ha anche scoperto che l'esposizione prolungata ai raggi X rilassava la deformazione interna del materiale, consentendo una ricostruzione 3D accurata del cristallo mentre veniva sollecitato. Un'impresa che, secondo Jossou, nessuno ha mai raggiunto prima.

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> Recensioni e prove di notebook, tablets e smartphones > News > Newsarchive 2025 09 > Gli smartphone e i computer potrebbero ottenere un grande aumento delle prestazioni, grazie a una scoperta accidentale
Chibuike Okpara, 2025-09- 1 (Update: 2025-09- 1)